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　　光損耗是度量一個(gè)光纖接頭質(zhì)量的重要指標(biāo)，今兒為大家分享幾種測量方法可以確定光纖接頭的光損耗，以及使用光時(shí)域反射儀（OTDR）或熔接接頭的損耗評估方案等。

　　第一、熔接接頭損耗評估

　　某些熔接機(jī)使用一種光纖成像和測量幾何參數(shù)的斷面排列系統(tǒng)。通過從兩個(gè)垂直方向觀察光纖，計(jì)算機(jī)處理并分析該圖像來確定包層的偏移、纖芯的畸變、光纖外徑的變化和其他關(guān)鍵參數(shù)，使用這些參數(shù)來評價(jià)接頭的損耗。依賴于接頭和它的損耗評估算法求得的接續(xù)損耗可能和真實(shí)的接續(xù)損耗有相當(dāng)大的差異。

　　第二、使用光時(shí)域反射儀（OTDR）

　　光時(shí)域反射儀（OTDR：Optical Time Domain Reflectometer）又稱背向散射儀，其原理是：往光纖中傳輸光脈沖時(shí)，由于在光纖中散射的微量光，返回光源側(cè)后，可以利用時(shí)基來觀察反射的返回光程度。由于光纖的模場直徑影響它的后向散射，因此在接頭兩邊的光纖可能會產(chǎn)生不同的后向散射，從而遮蔽接頭的真實(shí)損耗。如果從兩個(gè)方向測量接頭的損耗，并求出這兩個(gè)結(jié)果的平均值，便可消除單向OTDR測量的人為因素誤差。然而，多數(shù)情況是操作人員僅從一個(gè)方向測量接頭損耗，其結(jié)果并不十分準(zhǔn)確，事實(shí)上，由于具有失配模場直徑的光纖引起的損耗可能比內(nèi)在接頭損耗自身大10倍。